学术报告：芯片的容错设计与测试

 

题  目：芯片的容错设计与测试

 

主讲人：韩银和（教授/博导）中国科学院计算技术研究所

 

时  间： 2016年 5月 20日 （周五）下午3:20

 

地  点：主校区JSJ-110会议室

 

欢迎广大师生参加！

 

 

 

 

 

                            专用集成电路设计重点实验室

 

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                           二〇一六年五月十七日